T3ster——功率电子热测试设备

　　

　　 　　

　　

　　 　　

　　

　　 　　

　　

　　 　　

　　

　　 　　,实现芯片结温,结壳热阻,内部各层热容,热阻等热特性的快速无损测量,可用于电子元器件的校准,实现接触热阻测量 　　 　　

　　

　　 　　,可用于芯片缺陷检测或故障分析以及PCB焊点的可靠性测试 　　 　　

　　

　　 　　,可为FloTHERM提供详细的热特性数据,帮助快速建立和修正仿真模型 　　 　　

　　

　　 　　,高达1μs系统瞬态测试间隔下,拥有市场更高灵敏度(其温度分辨率达0.01摄氏度) 　　 　　

　　

　　
　　

　　

　　 T3ster——功率电子热测试设备”> 　　</p> 　　<p> 　　<br/> 　　</p> 　　<p> 　　 　　</p> 　　<p> 　　 　　,拥有高精度的辐射和光学测量仪,能对领导热特性包括温度,寿命和可靠性等进行全面准确的测量 　　 　　</p> 　　<p> 　　 　　,其自带软件能自动分析光通量,光效率,效能以及色差坐标,数据可直接导入Flotherm/FloEFD进行后续LED灯总成的热分析 　　 　　</p> 　　<p> 　　<br/> 　　</p> 　　<p> 　　<img src=T3ster——功率电子热测试设备